Els primers signes d'estrès dels cultius, com ara la sequera, es poden obtenir examinant el sistema radicular. Però per estudiar correctament les arrels, sovint cal danyar la planta. Científics nord-americans del National Laboratory. Lawrence a Berkeley (Califòrnia) va desenvolupar un aparell sensor especial per estudiar les característiques de les arrels de les plantes, que permet obtenir informació sobre l'arrel sense danyar la pròpia planta.
Estem parlant d'un escàner elèctric tomogràfic de la rizosfera (TERI). El dispositiu pot recollir dades sobre les característiques de les arrels (longitud, massa i diàmetre). Els sensors innovadors funcionen enviant una petita quantitat de corrent elèctric a la tija de la planta. El sensor, en detectar de manera no invasiva la resposta elèctrica de les arrels i del sòl, proporciona informació sobre les característiques requerides de l'arrel.
Fins ara, la tecnologia s'ha provat amb soja i blat de moro. Cua per les patates. Aquest enfocament pot ajudar els científics a mirar la producció de cultius des d'una perspectiva completament nova.